ic測(cè)試座，百度的定義是是一種標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試ic裝置的電氣性能和電氣連接，以檢查制造缺陷和不良部件。

實(shí)際上，芯片測(cè)試座，又稱ICsocket，其實(shí)定義并沒(méi)有那么復(fù)雜，它只是為了滿足內(nèi)聯(lián)器(interposer)的某種芯片測(cè)試需求。

它是集成電路和PCB之間的靜態(tài)連接器，可以使芯片更換測(cè)試更加方便，不需要一直焊接和拆卸芯片，從而不會(huì)損壞芯片和PCB，從而實(shí)現(xiàn)快速高效的測(cè)試。

IC測(cè)試座的仿形、測(cè)試座的大小和內(nèi)聯(lián)pin的數(shù)量可以通過(guò)包裝類型、大小和數(shù)量來(lái)確定。于是，測(cè)試座的設(shè)計(jì)原型就產(chǎn)生了。

某種測(cè)試：測(cè)試座是根據(jù)不同的測(cè)試要求，他的測(cè)試座類型也不同。

以上就是關(guān)于芯片的簡(jiǎn)單介紹，希望對(duì)您有益~