-
ATE測試座如何配合IC機(jī)臺完成芯片檢測？
IC ATE，也就是芯片測試機(jī)。自動化測試機(jī)的作用是實(shí)現(xiàn)快速有效的測試，為IC的大量出貨做出了突出貢獻(xiàn)。ATE測試座一類是負(fù)責(zé)芯片的測試，另一類用于芯片的固件寫入，即燒錄。ATE測試座如何配合IC機(jī)臺？想要用自動幾臺檢測芯片，就需要有一個(gè)能夠接觸芯片焊盤或芯片錫球的連接器，這個(gè)連接器就是ATE測試座。ATE測試座需要一對一匹配每一個(gè)焊盤點(diǎn)，同時(shí)配合機(jī)臺進(jìn)行自動壓合，從而完成IC測試。 需要定制ATE測試座的朋友需要注意，在定制時(shí)，需要與廠商
2022-08-01 493
-
手機(jī)測試治具用來檢測哪些內(nèi)容？
幾乎人手一個(gè)電子設(shè)備，在生產(chǎn)電子設(shè)備時(shí)，為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，通常需要進(jìn)行檢測，比如手機(jī)會使用手機(jī)測試治具來檢測，那么一般都檢測哪些內(nèi)容呢？1. 軟件和版本測試：基于OS的設(shè)計(jì)，應(yīng)用的軟件版本和系統(tǒng)也會有所不同，比如安卓手機(jī)使用的安卓系統(tǒng)，而蘋果手機(jī)使用的是ISO系統(tǒng)，我們可以通過手機(jī)測試治具來測試是否符合原設(shè)計(jì)要求。2. 開關(guān)機(jī)測試：測試手機(jī)主板的供電情況，按照正常的開關(guān)步驟順利開關(guān)手機(jī)，并且聲音及畫面無異常情況，電流電壓在3.8
2022-07-29 456
-
電子元器件老化的原因有哪些？
電子元器件老化問題是一直存在的，老化可能會造成電子元器件的壽命縮短，那么造成電子元器件老化的原因有哪些呢？今天，小編給大家總結(jié)出以下四個(gè)原因： ①由于材料的熱膨脹系數(shù)不同，導(dǎo)致熱循環(huán)應(yīng)力疲勞。②熱遷移，即金屬原子逆溫梯度運(yùn)動。導(dǎo)致焊料發(fā)生一定程度的成分偏析。③電遷移，陰極部位可能形成空洞，陽極可能積聚小丘。④焊接反應(yīng)在室溫下產(chǎn)生的金屬間化合物仍在生長，甚至?xí)谋M金屬化層的反應(yīng)物。然后，金屬間化合物剝落到焊料中，容易形
2022-07-28 473
-
芯片測試座具有哪些基本功能？
芯片測試座的主要是起到一個(gè)連接導(dǎo)通的作用；常用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。從某種定義來說它只是為了滿足某種芯片某種測試需求的連接器（connector）。它是一個(gè)PCB及IC之間的靜態(tài)連接器，它會讓芯片的更換測試更為方便，不用一直重復(fù)焊接和取下芯片，從而減少IC與PCB的損傷，以及達(dá)到快速高效的測試效果。 那么芯片測試座具備哪些功能呢？今天小編給大家簡單介紹芯片測試座的三個(gè)基本功能：1、來料檢測，采購回來IC有時(shí)在使用前會進(jìn)行質(zhì)量檢查，找出
2022-07-27 396
