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一分鐘帶你了解QFN40L-5x5測(cè)試座
芯片測(cè)試行業(yè)一直被認(rèn)為是芯片密封測(cè)試的一部分。縱觀國(guó)內(nèi)芯片行業(yè)的整體情況，傳統(tǒng)的綜合封裝測(cè)試企業(yè)無(wú)法滿足當(dāng)前的需求。今天小編從以下幾個(gè)方面給大家簡(jiǎn)單介紹一下QFN40L-5x5測(cè)試座。 1、QFN40L-5x5測(cè)試座適用范圍：適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝，用于芯片的快速驗(yàn)證、測(cè)試、老化，壓蓋式設(shè)計(jì)供雙扣手工或自動(dòng)加載或卸載機(jī)構(gòu)，適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸規(guī)格DFN.QFN(1*1-8*8)2、QFN40L-5x5測(cè)試座的機(jī)械性能：測(cè)試座
2022-07-26 693
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半導(dǎo)體老化測(cè)試的重要性
半導(dǎo)體測(cè)試是一種預(yù)測(cè)方法，用于在有缺陷的電子元件進(jìn)入市場(chǎng)或組裝成電子產(chǎn)品之前對(duì)其進(jìn)行識(shí)別并取出丟棄。隨著半導(dǎo)體電子技術(shù)的進(jìn)步，半導(dǎo)體測(cè)試已成為確保質(zhì)量的關(guān)鍵行業(yè)流程。除了半導(dǎo)體元件外，PCB、IC和處理器部件通常在老化條件下進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試。 半導(dǎo)體測(cè)試是對(duì)半導(dǎo)體器件施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力以引起固有故障的盡早突顯的半導(dǎo)體測(cè)試方式。在半導(dǎo)體中，故障可分為以下幾類：1.早期故障發(fā)生在設(shè)備運(yùn)行的初始階段。早期故障的發(fā)生率
2022-07-26 387
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芯片測(cè)試行業(yè)的發(fā)展
芯片測(cè)試公司可以根據(jù)客戶的需求，在測(cè)試過(guò)程中，客戶也可以根據(jù)測(cè)試反饋及時(shí)調(diào)整芯片設(shè)計(jì)理念，甚至可以定制測(cè)試服務(wù)，滿足芯片功能、性能和質(zhì)量的嚴(yán)格要求。但由于芯片測(cè)試行業(yè)屬于技術(shù)密集型和資本密集型行業(yè)，與企業(yè)的技術(shù)實(shí)力和資本實(shí)力密切相關(guān)。此外，由于中國(guó)大陸企業(yè)進(jìn)入芯片測(cè)試市場(chǎng)較晚，但目前表現(xiàn)出強(qiáng)勁的增長(zhǎng)勢(shì)頭。據(jù)TrendForce2021年公布的報(bào)告Q第二季度，全球封測(cè)市場(chǎng)規(guī)模前十的廠商中，有6家來(lái)自中國(guó)臺(tái)灣省，總市場(chǎng)份額占54.8%；3個(gè)來(lái)自
2022-07-22 313
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芯片測(cè)試座和芯片老化座兩者之間有什么區(qū)別？
芯片測(cè)試座檢查在線單個(gè)組件，以及各電路網(wǎng)的開(kāi)啟、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、故障定位準(zhǔn)確、速度快等特點(diǎn)。簡(jiǎn)單描述是連接導(dǎo)通的插座；基本功能一:來(lái)料檢測(cè)，采購(gòu)回來(lái)IC有時(shí)在使用前會(huì)進(jìn)行質(zhì)量檢查，找出不良產(chǎn)品，從而提高質(zhì)量SMT的良品率。IC的品質(zhì)光憑肉眼是看不出來(lái)的，必須通過(guò)加電檢測(cè)，用常用的方法檢測(cè)IC的電流、電壓、電感、電阻、電容也不能完全判斷IC的好壞；通過(guò)IC測(cè)試夾具應(yīng)用基本功能跑程序，可以判斷IC的好壞。基本功能二：維修檢測(cè)，有時(shí)主
2022-07-21 420
