-
芯片測試座:老化測試有哪些類型?
老化測試過程一般為125℃在溫度下,可在其整個使用壽命內提供給器件的偏置電壓。老化板配合老化板。IC老化試驗座用于將半導體元件放入老化爐中。電壓施加可以是靜態或動態的。不同類型的老化測試是靜態老化和動態老化。下表比較了靜態老化和動態老化測試。靜態老化是指半導體器件處于非工作模式,半導體器件不輸入,其優點包括低成本和相對簡單的程序,成本相應較低,但缺點是老化測試設備上監控的電路節點不到實際數量的一半。靜態老化一般
2022-11-23 346
-
如何選購QFN測試座?
QFN全稱QuadFlatNo-leadsPackage,中文全稱方形扁平無引腳封裝,表面貼裝型封裝之一。也有類似的。LCC,PLCC這種封裝類型。QFN是日本電子機械工業協會規定的名稱。QFN芯片具有電熱性能好、體積小、重量輕、項目成本低、適用場景多等優點。同時,這種包裝類型的整個產業鏈完善,深受國內廠商的青睞。在密封測試方面,自動化測試水平高,主流廠商完整FT檢測產線和burnintest產品線。對于后端檢測,市場上也有完整的檢測座產品線,從0開始.4mmpitch到0.5
2022-11-22 510
-
BGA測試座:BGA封裝概述
BGA是英文BallGridArrayPackage縮寫,即球柵陣型封裝。20世紀90年代,隨著技術的發展,芯片集成度不斷提高,I/O引腳數量急劇增加,功耗也隨之增加,對集成電路封裝的需求也更加嚴格。為滿足發展需要,BGA包裝開始用于生產。 選用BGA技術包裝的內存,在內存體積不變的情況下,增加兩到三倍,BGA與TSOP體積較小,散熱性能和電性能較好。BGA包裝技術大大提高了每平方英寸的存儲容量,選擇BGA在相同容量下,包裝技術的內存商品體積只有TSOP包裝的三分之一;此
2022-11-21 548
-
IC socket在芯片發展中的重要性
如今5G,智能駕駛技術的飛速發展,對網絡傳輸的需求也越來越高,芯片在這些技術的發展中起著至關重要的作用。一些芯片如GPU,APU,以太網等芯片尺寸越來越大,傳輸速度越來越高,功率越來越大,傳輸速度越來越高,各種包裝技術不斷變化,SIP,AIP,3DFO等等。檢測硬件需要同時滿足這些應用要求,同時具有穩定性和穩定性。這對檢測socket廠家和測試工程師都帶來了很大的挑站。socket它是連接芯片和檢測主板的重要組成部分,在其中起著至關重要的作用。面對更高的
2022-11-16 511